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OCT與傳感領域的利器:CCS超發光光源(FOLS-04)的核心優勢

發布時間:2025-07-26 點擊量:72

在光學相干斷層掃描(OCT)和光纖傳感領域,光源的性能直接決定了系統的成像分辨率、探測深度和測量精度。日本CCS公司推出的FOLS-04溫控SM光纖輸出超發光光源,憑借其寬光譜、低相干性和高穩定性,成為OCT和光纖傳感應用的理想選擇。以下是其核心優勢及典型應用分析:

1. 核心技術優勢

(1)寬光譜輸出

  • 波長范圍:覆蓋可見光到紅外波段(典型波長680–1650nm),可根據需求定制。

  • 光譜寬度:輸出光譜寬度達數十納米,顯著提升OCT系統的軸向分辨率。

(2)低相干性

  • 短相干長度:超發光二極管(SLD)的低相干特性可有效減少OCT成像中的散斑噪聲,提高圖像清晰度。

(3)高穩定性

  • 集成溫控電路:通過精確控制SLD溫度,確保輸出功率和光譜穩定性,適合長期連續工作。

  • 內置隔離器:減少背向反射干擾,提升系統信噪比。

(4)即插即用設計

  • 單模光纖輸出:直接兼容標準光纖系統,無需復雜光學調試。

  • 模塊化集成:驅動電路、溫控單元和SLD高度集成,操作簡便。

2. 典型應用場景

(1)光學相干斷層掃描(OCT)

  • 眼科OCT:FOLS-04的寬光譜(如850nm或1300nm波段)可提供微米級軸向分辨率,用于視網膜病變檢測。

  • 內窺OCT:低相干光減少組織散射干擾,實現消化道或血管的高清成像。

(2)光纖傳感與分布式測量

  • 光纖布拉格光柵(FBG)傳感:寬光譜可同時解調多個FBG波長,適用于應變、溫度監測。

  • 低相干干涉儀:用于光纖鏈路故障定位或光學元件厚度測量。

(3)工業無損檢測

  • 薄膜厚度測量:通過干涉信號分析,實現納米級厚度精度。

  • 復合材料缺陷檢測:結合OCT技術,識別內部分層或氣泡。

3. 行業對比與競爭優勢

  • 與傳統LED對比:
    FOLS-04的光譜寬度和功率穩定性遠超LED,更適合高精度OCT系統。

  • 與激光光源對比:
    雖單色性不如激光,但其低相干性在OCT中具有不可替代的優勢。

  • 市場定位:
    相比濱松(Hamamatsu)或Thorlabs的SLD光源,CCS FOLS-04以高性價比和緊湊設計見長。

4. 未來發展方向

  • 多波段集成:開發可切換波長的SLD光源,適配多模態OCT系統。

  • 功率提升:通過SLD芯片優化,進一步提高輸出功率,滿足深層組織成像需求。

  • 智能化控制:增加通信接口(如USB或以太網),支持遠程參數調節與監測。

結語

CCS FOLS-04超發光光源憑借其寬光譜、低相干性穩定性,在OCT和光纖傳感領域展現出不可替代的價值。無論是醫療診斷、工業檢測還是科研實驗,它都能為用戶提供可靠的高性能光源解決方案。隨著OCT技術向更高分辨率和更快成像速度發展,FOLS-04將繼續助力前沿應用突破。